Deep Learning-Based BSIM-CMG Parameter Extraction for 10-nm FinFET
In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-08-01), Heft 8, S. 4765-4768
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Deep Learning-Based BSIM-CMG Parameter Extraction for 10-nm FinFET
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Autor/in / Beteiligte Person: | Kao, M. ; Chavez, F. ; Khandelwal, S. ; Hu, C. |
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Zeitschrift: | IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-08-01), Heft 8, S. 4765-4768 |
Veröffentlichung: | 2022 |
Medientyp: | academicJournal |
ISSN: | 0018-9383 (print) ; 1557-9646 (print) |
DOI: | 10.1109/TED.2022.3181536 |
Sonstiges: |
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