Reliability assessment of patched SCADA EMS/DMS servers through similarity matching

Biswas, Jit ; Yau, David K. Y. ; et al.

In: IEEE Power & Energy Society Innovative Smart Grid Technologies Conference (ISGT); (2022-04-24) S. 1-5

Konferenz

Titel:	Reliability assessment of patched SCADA EMS/DMS servers through similarity matching
Autor/in / Beteiligte Person:	Biswas, Jit ; Yau, David K. Y. ; Zihao, Li ; Ming, Yu ; Lunn, Kon Ih ; Nan, Tan Keng ; Zhimin, Zhang ; Chua, Jimmy ; Ann, Tso Wai ; Kean, Heng Yong
Quelle:	IEEE Power & Energy Society Innovative Smart Grid Technologies Conference (ISGT); (2022-04-24) S. 1-5
Veröffentlichung:	2022
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	978-1-6654-3775-2 (print)
ISSN:	2472-8152 (print)
DOI:	10.1109/ISGT50606.2022.9817486
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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