GaAs RF Amplifier Field Failure Analysis and Reliability Prediction in 5G AAU System

Shi, Lin ; Wang, Chong ; et al.

In: IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA); (2022-07-18) S. 1-4

Konferenz

Wie komme ich dran?

Titel:	GaAs RF Amplifier Field Failure Analysis and Reliability Prediction in 5G AAU System
Autor/in / Beteiligte Person:	Shi, Lin ; Wang, Chong ; Cai, Xiaolong ; Cao, Zhengya ; Ma, Xiaohua ; Duan, Xiangyang
Quelle:	IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA); (2022-07-18) S. 1-4
Veröffentlichung:	2022
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	978-1-6654-9815-9 (print)
ISSN:	1946-1550 (print)
DOI:	10.1109/IPFA55383.2022.9915740
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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