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Latency Insertion Method for FinFET DC Operating Point Simulation Based on BSIM-CMG

Zhou, Yi ; Schutt-Aine, Jose E.
In: IEEE Electrical Design of Advanced Packaging and Systems (EDAPS); (2022-12-12) S. 1-3
Konferenz

Titel:
Latency Insertion Method for FinFET DC Operating Point Simulation Based on BSIM-CMG
Autor/in / Beteiligte Person: Zhou, Yi ; Schutt-Aine, Jose E.
Quelle: IEEE Electrical Design of Advanced Packaging and Systems (EDAPS); (2022-12-12) S. 1-3
Veröffentlichung: 2022
Medientyp: Konferenz
ISBN: 978-1-6654-9194-5 (print)
ISSN: 2151-1233 (print)
DOI: 10.1109/EDAPS56906.2022.9995055
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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