Sub-10 MeV proton-induced single-event transients in 65 nm CMOS inverter chains

Wu, Zhenyu ; Chi, Yaqing ; et al.

In: Microelectronics Reliability, Jg. 125 (2021-10-01)

academicJournal

Titel:	Sub-10 MeV proton-induced single-event transients in 65 nm CMOS inverter chains
Autor/in / Beteiligte Person:	Wu, Zhenyu ; Chi, Yaqing ; Chen, Jianjun ; Huang, Pengcheng ; Liang, Bin ; Zhang, Xiaodong
Link:	E-Journal im Bestand der UB Hagen?
Zeitschrift:	Microelectronics Reliability, Jg. 125 (2021-10-01)
Veröffentlichung:	2021
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	0026-2714 (electronic)
DOI:	10.1016/j.microrel.2021.114366
Sonstiges:	Nachgewiesen in: ScienceDirect Sprachen: English

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