Crystallinity and surface roughness dependent photoluminescence of Y 1 − xGd xVO 4:Eu 3+ thin films grown on Si (100) substrate

Shim, Kyoo Sung ; Yang, Hyun Kyoung ; et al.

In: Thin Solid Films, Jg. 517 (2009), Heft 17, S. 5137-5140

academicJournal

Titel:	Crystallinity and surface roughness dependent photoluminescence of Y 1 − xGd xVO 4:Eu 3+ thin films grown on Si (100) substrate
Autor/in / Beteiligte Person:	Shim, Kyoo Sung ; Yang, Hyun Kyoung ; Moon, Byung Kee ; Choi, Byung Chun ; Jeong, Jung Hyun ; Bae, Jong Soung ; Kim, Kwang Ho
Link:	E-Journal im Bestand der UB Hagen?
Zeitschrift:	Thin Solid Films, Jg. 517 (2009), Heft 17, S. 5137-5140
Veröffentlichung:	2009
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	0040-6090 (electronic)
DOI:	10.1016/j.tsf.2009.03.005
Sonstiges:	Nachgewiesen in: ScienceDirect Sprachen: English

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