Measurements and simulation of SMT components

Pryputniewicz, Ryszard J. ; Rosato, David ; et al.

In: Microelectronics International: An International Journal, Jg. 20 (2003-04-01), Heft 1, S. 13-16

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Titel:	Measurements and simulation of SMT components
Autor/in / Beteiligte Person:	Pryputniewicz, Ryszard J. ; Rosato, David ; Furlong, Cosme
Link:	Full Text Finder (Volltext) http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/13565360310455463
Zeitschrift:	Microelectronics International: An International Journal, Jg. 20 (2003-04-01), Heft 1, S. 13-16
Veröffentlichung:	2003
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	1356-5362 (print)
DOI:	10.1108/13565360310455463
Sonstiges:	Nachgewiesen in: Emerald Insight Sprachen: English

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