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A MIP model and a biased random-key genetic algorithm based approach for a two-dimensional cutting problem with defects

Goncalves, Jose Fernando ; Wascher, Gerhard
In: European Journal of Operational Research, Jg. 286 (2020-11-01), Heft 3, S. 867
Online academicJournal

Titel:
A MIP model and a biased random-key genetic algorithm based approach for a two-dimensional cutting problem with defects
Autor/in / Beteiligte Person: Goncalves, Jose Fernando ; Wascher, Gerhard
Link:
Zeitschrift: European Journal of Operational Research, Jg. 286 (2020-11-01), Heft 3, S. 867
Veröffentlichung: 2020
Medientyp: academicJournal
ISSN: 0377-2217 (print)
DOI: 10.1016/j.ejor.2020.04.028
Schlagwort:
  • Algorithms -- Models
  • Algorithms -- Analysis
  • Algorithm
  • Business
  • Business, general
  • Business, international
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: Gale General OneFile
  • Sprachen: English

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