Foundation of rf CMOS and SiGe BiCMOS technologies
In: IBM Journal of Research and Development, 2003-03-01, S. 101-138
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serialPeriodical
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Foundation of rf CMOS and SiGe BiCMOS technologies
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Autor/in / Beteiligte Person: | Dunn, J.S. ; Ahlgren, D.C. ; Coolbaugh, D.D. ; Feilchenfeld, N.B. ; Freeman, G. ; Greenberg, D.R. ; Groves, R. A. ; Guarin, F.J. ; Hammad, Y. ; Joseph, A.J. ; Lanzerotti, L. D. ; St. Onge, S.A. ; Orner, B.A. ; Rieh, J. S. ; Stein, K.J. ; Voldman, S.H. ; Wang, P. C. ; Zierak, M.J. ; Subbanna, D.L. ; Harame, D.L. ; Herman, D.A., Jr. ; Meyerson, B.S. |
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Zeitschrift: | IBM Journal of Research and Development, 2003-03-01, S. 101-138 |
Veröffentlichung: | 2003 |
Medientyp: | serialPeriodical |
ISSN: | 0018-8646 (print) |
Sonstiges: |
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