High-performance CMOS variability in the 65-nm regime and beyond
In: IBM Journal of Research and Development, Jg. 50 (2006-07-01), Heft 4-5, S. 433-449
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High-performance CMOS variability in the 65-nm regime and beyond
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Autor/in / Beteiligte Person: | Bernstein, K. ; Frank, D.J. ; Gattiker, A.E. ; Haensch, W. ; Ji, B.L. ; Nassif, S.R. ; Nowak, E.J. ; Pearson, D.J. ; Rohrer, N.J. |
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Zeitschrift: | IBM Journal of Research and Development, Jg. 50 (2006-07-01), Heft 4-5, S. 433-449 |
Veröffentlichung: | 2006 |
Medientyp: | serialPeriodical |
ISSN: | 0018-8646 (print) |
Sonstiges: |
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