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Low temperature testing of a radiation hardened CMOS 8-bit flash analog-to-digital (A/D) converter [microform] / Scott S. Gerber ... [et al.].

In: Low temperature testing of a radiation hardened CMOS 8-bit flash analog-to-digital (A/D) converter [microform] / Scott S. Gerber ... [et al.].; (2001)
Online Buch - 1 v.

Titel:
Low temperature testing of a radiation hardened CMOS 8-bit flash analog-to-digital (A/D) converter [microform] / Scott S. Gerber ... [et al.].
Link:
Quelle: Low temperature testing of a radiation hardened CMOS 8-bit flash analog-to-digital (A/D) converter [microform] / Scott S. Gerber ... [et al.].; (2001)
Reihe: NASA technical memorandum; 211074 [NASA technical memorandum]; NASA/TM-2001-211074
Veröffentlichung: 2001
Medientyp: Buch
Umfang: 1 v.
Schlagwort:
  • Analog to digital converters.
  • CMOS.
  • Cryogenics.
  • Digital electronics.
  • Low temperature tests.
  • Temperature dependence.
  • Thermal cycling tests.
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: Government Publishing Office Catalog
  • Sprachen: English
  • Language: English
  • Publication Information: [Cleveland, Ohio] : Hanover, MD : National Aeronautics and Space Administration, Glenn Research Center ; Available from NASA Center for Aerospace Information, 2001
  • Document Type: Monograph
  • Notes: Shipping list no.: 2002-0336-M. ; Also available via Internet from the NASA web site. Address as of 10/18/02: http://gltrs.grc.nasa.gov/reports/2001/TM-2001-211074.pdf ; current access is available via PURL. ; Microfiche. ; [cat:jln]
  • Other Authors: Gerber, Scott S. ; NASA Glenn Research Center.

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