Testing of CMOS OTA Using Combined Oscillation and IDDQ Test Methodology

Kaur, Maninder ; Kaur, Jasdeep

In: International Journal of Scientific Engineering and Technology, Jg. 5 (2016-10-01), Heft 10, S. 471-476

academicJournal

Titel:	Testing of CMOS OTA Using Combined Oscillation and IDDQ Test Methodology
Autor/in / Beteiligte Person:	Kaur, Maninder ; Kaur, Jasdeep
Zeitschrift:	International Journal of Scientific Engineering and Technology, Jg. 5 (2016-10-01), Heft 10, S. 471-476
Veröffentlichung:	2016
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	2277-1581 (print)
DOI:	10.17950/ijset/v5s10/1005
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IndianJournals.com

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