製造バラツキを考慮したCMOSテラヘルツイメージセンサ向けピクセル利得バラツキ補償機構

高広, 池上 ; 脩馬, 平田 ; et al.

In: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報, Jg. 119 (2019-08-01), Heft 162, S. 49-52

academicJournal

Titel:	製造バラツキを考慮したCMOSテラヘルツイメージセンサ向けピクセル利得バラツキ補償機構
Autor/in / Beteiligte Person:	高広, 池上 ; 脩馬, 平田 ; 浩太朗, 澤口 ; 佑次, 永安 ; 悠里, 金澤 ; 将之, 池辺
Link:	View Record from Japanese Periodicals Index
Zeitschrift:	電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報, Jg. 119 (2019-08-01), Heft 162, S. 49-52
Reihe:	集積回路
Veröffentlichung:	2019
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	0913-5685
Schlagwort:	テラヘルツテラヘルツイメージセンサ CMOS 包絡線検波製造バラツキバラツキ補償グローバルシャッタ terahertz terahertz image sensor envelope detector process variation variation compensation global shutter Subjects: テラヘルツ; テラヘルツイメージセンサ; CMOS; 包絡線検波; 製造バラツキ; バラツキ補償; グローバルシャッタ; terahertz; terahertz image sensor; envelope detector; process variation; variation compensation; global shutter
Sonstiges:	Nachgewiesen in: Japanese Periodical Index - 雑誌記事索引 Sprachen: Japanese

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