65-nm CMOSプロセスを用いた局部帰還構成RGC-TIA
In: 電気学会研究会資料. ECT = The papers of technical meeting on electronic circuits, IEE Japan / 電子回路研究会 [編], Jg. 2022 (2022-06-01), Heft 23-39, S. 51-55
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Titel: |
65-nm CMOSプロセスを用いた局部帰還構成RGC-TIA
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Autor/in / Beteiligte Person: | 康宏, 高橋 ; 大輔, 伊藤 ; 誠, 中村 ; 亮, 土谷 ; 敏之, 井上 ; 桂路, 岸根 |
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Zeitschrift: | 電気学会研究会資料. ECT = The papers of technical meeting on electronic circuits, IEE Japan / 電子回路研究会 [編], Jg. 2022 (2022-06-01), Heft 23-39, S. 51-55 |
Reihe: | 電子回路研究会・電子回路一般 |
Veröffentlichung: | 2022 |
Medientyp: | academicJournal |
Schlagwort: |
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Sonstiges: |
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