A 353pW, 0.014%/V line sensitivity self-biased CMOS voltage reference with source degeneration active load

Zhang, Jingran ; Yu, Kai ; et al.

In: IEICE Electronics Express, Jg. 21 (2024-01-25), Heft 2, S. 20230497

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Titel:	A 353pW, 0.014%/V line sensitivity self-biased CMOS voltage reference with source degeneration active load
Autor/in / Beteiligte Person:	Zhang, Jingran ; Yu, Kai ; Li, Sizhen
Link:	Full Text Finder (Volltext)
Zeitschrift:	IEICE Electronics Express, Jg. 21 (2024-01-25), Heft 2, S. 20230497
Veröffentlichung:	2024
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	1349-2543 (print)
DOI:	10.1587/elex.20.20230497
Sonstiges:	Nachgewiesen in: J-STAGE Sprachen: English

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