Measurement of Integrated PA-to-LNA Isolation on Si CMOS Chip

Akira, MATSUZAWA ; JeeYoung, HONG ; et al.

In: IEICE Transactions on Electronics, Jg. E94.C (2011-06-01), Heft 6, S. 1057

academicJournal

Titel:	Measurement of Integrated PA-to-LNA Isolation on Si CMOS Chip
Autor/in / Beteiligte Person:	Akira, MATSUZAWA ; JeeYoung, HONG ; Kenichi, OKADA ; Ryo, MINAMI
Zeitschrift:	IEICE Transactions on Electronics, Jg. E94.C (2011-06-01), Heft 6, S. 1057
Veröffentlichung:	2011
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	0916-8524 (print) ; 1745-1353 (print)
DOI:	10.1587/transele.E94.C.1057
Sonstiges:	Nachgewiesen in: J-STAGE Sprachen: English

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