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Quality control method of blind via hole based on monitoring Cu direct laser processing in high heat radiation printed circuit board with a high speed camera / 高放熱性プリント基板のCuダイレクトレーザ加工における高速度カメラによるモニタリングに基づく止まり穴品質の制御方法

Eiichi, AOYAMA ; Keiji, OGAWA ; et al.
In: 日本機械学会論文集, Jg. 82 (2016), Heft 836, S. 15-491
academicJournal

Titel:
Quality control method of blind via hole based on monitoring Cu direct laser processing in high heat radiation printed circuit board with a high speed camera / 高放熱性プリント基板のCuダイレクトレーザ加工における高速度カメラによるモニタリングに基づく止まり穴品質の制御方法
Autor/in / Beteiligte Person: Eiichi, AOYAMA ; Keiji, OGAWA ; Munetaka, IOZUMI ; Suguru, ONCHI ; Toshiki, HIROGAKI ; 宗高, 五百住 ; 圭二, 小川 ; 俊樹, 廣垣 ; 駿, 恩地 ; 栄一, 青山
Zeitschrift: 日本機械学会論文集, Jg. 82 (2016), Heft 836, S. 15-491
Veröffentlichung: 2016
Medientyp: academicJournal
ISSN: 2187-9761 (print)
DOI: 10.1299/transjsme.15-00491
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: J-STAGE
  • Sprachen: Japanese

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