Zum Hauptinhalt springen

Elemental Distribution Measurement of Plants by X-Ray Analysis Microscope / X線分析顕微鏡(XGT)による植物の元素分布測定

Chihiro, NAKAMURA ; Hitomi, NAKANO ; et al.
In: X線分析の進歩, Jg. 49 (2018-03-31), S. 249
academicJournal

Titel:
Elemental Distribution Measurement of Plants by X-Ray Analysis Microscope / X線分析顕微鏡(XGT)による植物の元素分布測定
Autor/in / Beteiligte Person: Chihiro, NAKAMURA ; Hitomi, NAKANO ; Masaaki, YOKOYAMA ; Shintaro, KOMATANI ; ちひろ, 中村 ; ひとみ, 中野 ; 政昭, 横山 ; 慎太郎, 駒谷
Zeitschrift: X線分析の進歩, Jg. 49 (2018-03-31), S. 249
Veröffentlichung: 2018
Medientyp: academicJournal
ISSN: 0911-7806 (print) ; 2758-3651 (print)
DOI: 10.57415/xshinpo.49.0_249
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: J-STAGE
  • Sprachen: Japanese

Klicken Sie ein Format an und speichern Sie dann die Daten oder geben Sie eine Empfänger-Adresse ein und lassen Sie sich per Email zusenden.

oder
oder

Wählen Sie das für Sie passende Zitationsformat und kopieren Sie es dann in die Zwischenablage, lassen es sich per Mail zusenden oder speichern es als PDF-Datei.

oder
oder

Bitte prüfen Sie, ob die Zitation formal korrekt ist, bevor Sie sie in einer Arbeit verwenden. Benutzen Sie gegebenenfalls den "Exportieren"-Dialog, wenn Sie ein Literaturverwaltungsprogramm verwenden und die Zitat-Angaben selbst formatieren wollen.

xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -