78. Ultra-Low Voltage Time-Resolved Emission Measurements from 32 nm SOI CMOS Integrated Circuits

International, ASM

In: ISTFA™ 2014 - Conference Proceedings from the 40th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 9–13, 2014, George R. Brown Convention Center, Houston, Texas, USA 2014; (2014)

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Titel:	78. Ultra-Low Voltage Time-Resolved Emission Measurements from 32 nm SOI CMOS Integrated Circuits
Autor/in / Beteiligte Person:	International, ASM
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Quelle:	ISTFA™ 2014 - Conference Proceedings from the 40th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 9–13, 2014, George R. Brown Convention Center, Houston, Texas, USA 2014; (2014)
Veröffentlichung:	2014
Medientyp:	E-Book
ISBN:	978-1-68015-514-3 (print) ; 978-1-62708-074-3 (print)
Schlagwort:	metals metallurgy metals metallurgy -- fabrication nondestructive testing evaluation nondestructive testing evaluation -- general references
Sonstiges:	Nachgewiesen in: Knovel Sprachen: English File Description: application/pdf; text/html

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