HAADF‐STEM and EDS tilt‐series simulations of 25x25x25 nm semiconductors
In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 895-896
Nachschlagewerk
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Titel: |
HAADF‐STEM and EDS tilt‐series simulations of 25x25x25 nm semiconductors
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Autor/in / Beteiligte Person: | Aveyardhor, Richard ; Riegerhor, Bernd ; European Microscopy Society [Ed.] |
Zeitschrift: | European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 895-896 |
Veröffentlichung: | 2016 |
Medientyp: | Nachschlagewerk |
ISBN: | 978-3-527-80846-5 (print) ; 3-527-80846-9 (print) |
DOI: | 10.1002/9783527808465.EMC2016.6250 |
Sonstiges: |
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