Aberration corrected CVD‐TEM for in‐situ growth of III–V semiconductors

Wallenberghor, Reine ; Jacobssonhor, Daniel ; et al.

In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 265-266

Nachschlagewerk

Titel:	Aberration corrected CVD‐TEM for in‐situ growth of III–V semiconductors
Autor/in / Beteiligte Person:	Wallenberghor, Reine ; Jacobssonhor, Daniel ; Kimberly Dick Thelanderhor ; Gustafssonhor, Joacim ; Dogelhor, Stas ; European Microscopy Society [Ed.]
Zeitschrift:	European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 265-266
Veröffentlichung:	2016
Medientyp:	Nachschlagewerk
ISBN:	978-3-527-80846-5 (print) ; 3-527-80846-9 (print)
DOI:	10.1002/9783527808465.EMC2016.6856
Sonstiges:	Nachgewiesen in: Wiley Online Reference Works Sprachen: English

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