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A Chip Integrity Monitor for Evaluating Moisture/Ion Ingress in mm-Sized Single-Chip Implants

Akgün, O.C. ; Nanbakhsh, K. ; et al.
In: IEEE Transactions on Biomedical Circuits and Systems, Jg. 14 (2020-08-01), Heft 4
Online serialPeriodical

Titel:
A Chip Integrity Monitor for Evaluating Moisture/Ion Ingress in mm-Sized Single-Chip Implants
Autor/in / Beteiligte Person: Akgün, O.C. ; Nanbakhsh, K. ; Giagka, Vasiliki ; Serdijn, W.A.
Link:
Zeitschrift: IEEE Transactions on Biomedical Circuits and Systems, Jg. 14 (2020-08-01), Heft 4
Veröffentlichung: 2020
Medientyp: serialPeriodical
ISSN: 1932-4545 (print)
DOI: 10.1109/tbcas.2020.3007484
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: NARCIS
  • Sprachen: English
  • File Description: application/pdf

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