The application of time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) to forensic glass analysis and questioned document examination

Denman, John A

2007

unknown

The combination of analytical sensitivity and selectivity provided by time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS), with advanced statistical interrogation by principal component analysis (PCA), has allowed a significant advancement in the forensic discrimination of pen, pencil and glass materials based on trace characterisation.

Titel:	The application of time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) to forensic glass analysis and questioned document examination
Autor/in / Beteiligte Person:	Denman, John A
Link:	http://arrow.unisa.edu.au:8081/1959.8/40576 http://arrow.unisa.edu.au/vital/access/manager/Repository/unisa:28846
Veröffentlichung:	2007
Medientyp:	unknown
Schlagwort:	ToF-SIMS Questioned documents Principal Component Analysis Mass spectrometry Forensic Science Trace elements Instruments and Techniques Colloid and Surface Chemistry Structural Chemistry Analytical Spectrometry Analytical Chemistry Law, Justice and Law Enforcement Applied Statistics
Sonstiges:	Nachgewiesen in: Networked Digital Library of Theses & Dissertations Collection: Australiasian Digital Theses Program Rights: Copyright John Denman 2007

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