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Caractérisation et modélisation de la fiabilité des transistors et circuits millimétriques conçus en technologies BiCMOS et CMOS

Ighilahriz, Salim
2014
Hochschulschrift

Titel:
Caractérisation et modélisation de la fiabilité des transistors et circuits millimétriques conçus en technologies BiCMOS et CMOS
Autor/in / Beteiligte Person: Ighilahriz, Salim
Link:
Veröffentlichung: 2014
Medientyp: Hochschulschrift
Schlagwort:
  • Transistors bipolaires à hétérojonctions et MOS
  • Fiabilité
  • Caractérisation
  • Modélisation
  • Circuits
  • RF et millimétrique
  • Heterojunction bipolar and MOS transistors
  • Reliability
  • Characterization
  • Modeling
  • RF & mmW
  • 620
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: Networked Digital Library of Theses & Dissertations
  • Sprachen: French
  • Alternate Title: Reliability characterization and modeling of transistors and millimetric waves circuits designed in BiCMOS and CMOS technologies
  • Collection: Dépôt national des thèses électroniques françaises
  • Document Type: Electronic Thesis or Dissertation ; Text
  • Language: French

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