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Conception et simulation des circuits numériques en 28nm FDSOI pour la haute fiabilité

Sivadasan, Ajith
2018
Hochschulschrift

Titel:
Conception et simulation des circuits numériques en 28nm FDSOI pour la haute fiabilité
Autor/in / Beteiligte Person: Sivadasan, Ajith
Link:
Veröffentlichung: 2018
Medientyp: Hochschulschrift
Schlagwort:
  • Fiabilité
  • Charge de calcul
  • Modèle de vieillissement
  • Nbti
  • Polarisation face arrière
  • Taux de défaillance
  • Reliability
  • Workload
  • Aging model
  • Body/back biaising
  • Failure rate
  • 620
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: Networked Digital Library of Theses & Dissertations
  • Sprachen: English
  • Alternate Title: Design and Simulation of Digital Circuits in 28nm FDSOI for High Reliability
  • Collection: Dépôt national des thèses électroniques françaises
  • Document Type: Electronic Thesis or Dissertation ; Text
  • Language: English

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