CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies : process-aware SRAM design and test

Andrei Pavlov, Manoj Sachdev.

[Dordrecht] : Springer, cop, 2008

Buch - XVI, 193 s. : il. ; 24 cm.

Titel:	CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies : process-aware SRAM design and test
Verantwortlichkeitsangabe:	Andrei Pavlov, Manoj Sachdev.
Autor/in / Beteiligte Person:	Pavlov, Andrej. ; Sachdev, Manoj.
Link:	View record in NUKAT
Veröffentlichung:	[Dordrecht] : Springer, cop, 2008
Medientyp:	Buch
Umfang:	XVI, 193 s. : il. ; 24 cm.
ISBN:	978-140-208-3 (print) ; 978-1-4020-8362-4 (print)
Schlagwort:	Pamięci o dostępie bezpośrednim (informatyka) MOS tranzystory komplementarne Nanoelektronika
Sonstiges:	Nachgewiesen in: NUKAT Sprachen: English Document Type: Book Language: English Notes: Miejsce wyd. na podst. ISBN-u oraz http://blpc.bl.uk.

Klicken Sie ein Format an und speichern Sie dann die Daten oder geben Sie eine Empfänger-Adresse ein und lassen Sie sich per Email zusenden.

BibTeX Citavi, JabRef, u.a.
(Literaturverwaltung)

PDF kein Volltext!
(Merkzettel, Notizen)

RIS Endnote, Citavi u.a.
(Literaturverwaltung)

MODS
(XML zur Weiterverarbeitung)

oder

Wählen Sie das für Sie passende Zitationsformat und kopieren Sie es dann in die Zwischenablage, lassen es sich per Mail zusenden oder speichern es als PDF-Datei.

Gewünschter Zitations-Stil:

oder

Bitte prüfen Sie, ob die Zitation formal korrekt ist, bevor Sie sie in einer Arbeit verwenden. Benutzen Sie gegebenenfalls den "Exportieren"-Dialog, wenn Sie ein Literaturverwaltungsprogramm verwenden und die Zitat-Angaben selbst formatieren wollen.