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Electrorefraction in strained InGaAs/InP chopped quantum wells : significance of the interface layers

In: Journal of Applied Physics vol.87 (2000) nr.5 p.2331-2335 [ISSN 0021-8979]; (2000)
Online Elektronische Ressource

Titel:
Electrorefraction in strained InGaAs/InP chopped quantum wells : significance of the interface layers
Link:
Quelle: Journal of Applied Physics vol.87 (2000) nr.5 p.2331-2335 [ISSN 0021-8979]; (2000)
Veröffentlichung: 2000
Medientyp: Elektronische Ressource
Schlagwort:
  • Index Terms: Tijdschriftartikel Article
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: OAIster
  • Added Details: Dorren, B.H.P. ; Dorren, B.H.P. ; Silov, A. ; Leijs, M.R. ; Haverkort, J.E.M. ; Wolter, J.H.
  • Document Type: Electronic Resource
  • Availability: Open access content. Open access content ; info:eu-repo/semantics/openAccess
  • Note: DOI: 10.1063/1.372183 ; Journal of Applied Physics vol.87 (2000) nr.5 p.2331-2335 [ISSN 0021-8979] ; English
  • Contributing Source: TU/E REPOSITORY ; From OAIster®, provided by the OCLC Cooperative.

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