마이크로 전자소자내 박막계면의 파괴인성 정량화를 통한 계면접합력 시험법

이규제 (Gyu-jei Lee) ; 김종진 (Jong-jin Kim) ; et al.

In: 대한기계학회 춘추학술대회 2005-05 2005(5):136-142; Jg. 2005 (2005-05-31) 5, S. 136-141

Konferenz

Titel:	마이크로 전자소자내 박막계면의 파괴인성 정량화를 통한 계면접합력 시험법
Autor/in / Beteiligte Person:	이규제 (Gyu-jei Lee) ; 김종진 (Jong-jin Kim) ; 권동일 (Dongil Kwon)
Link:	https://www.dbpia.co.kr/journal/articleDetail?nodeId=NODE00913917
Quelle:	대한기계학회 춘추학술대회 2005-05 2005(5):136-142; Jg. 2005 (2005-05-31) 5, S. 136-141
Veröffentlichung:	2005
Medientyp:	Konferenz
Sonstiges:	Nachgewiesen in: DBPIA Sprachen: Korean

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