Embedded System의 효율적 TEST 방법에 대한 연구

김성근 (Seong-Gun Kim) ; 정기현 (Ki-Hyun Chung)

In: 대한전자공학회 학술대회 2008-06 2008(6):773-774; Jg. 2008 (2008-06-30) 6, S. 773-773

Konferenz

Titel:	Embedded System의 효율적 TEST 방법에 대한 연구
Autor/in / Beteiligte Person:	김성근 (Seong-Gun Kim) ; 정기현 (Ki-Hyun Chung)
Link:	https://www.dbpia.co.kr/journal/articleDetail?nodeId=NODE01017251
Quelle:	대한전자공학회 학술대회 2008-06 2008(6):773-774; Jg. 2008 (2008-06-30) 6, S. 773-773
Veröffentlichung:	2008
Medientyp:	Konferenz
Sonstiges:	Nachgewiesen in: DBPIA Sprachen: Korean

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