주파수 특성을 이용한 내장된 CMOS 연산증폭기의 테스트 방식 및 테스트를 고려한 설계

송근호 (G. H. Song) ; 김은동 (E. D. Kim) ; et al.

In: 대한전자공학회 기타 간행물, 2001-11-30, S. 710-715

report

Titel:	주파수 특성을 이용한 내장된 CMOS 연산증폭기의 테스트 방식 및 테스트를 고려한 설계
Autor/in / Beteiligte Person:	송근호 (G. H. Song) ; 김은동 (E. D. Kim) ; 김남균 (N. K. Kim) ; 김상철 ; 서길수 (K. S. Seo) ; 방욱 (W. Bahng) ; 한석붕 (S. B. Han)
Link:	https://www.dbpia.co.kr/journal/articleDetail?nodeId=NODE02012763
Zeitschrift:	대한전자공학회 기타 간행물, 2001-11-30, S. 710-715
Veröffentlichung:	2001
Medientyp:	report
Sonstiges:	Nachgewiesen in: DBPIA Sprachen: Korean

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