Simulation of Single-Event Effects on Fully Depleted Silicon-on-Insulator (FDSOI) CMOS

Calienes, Walter ; Vladimirescu, Bartra Andreas ; et al.

In: Semiconductor Devices in Harsh Conditions 2017; (2017) S. 43-66

Buch

Titel:	Simulation of Single-Event Effects on Fully Depleted Silicon-on-Insulator (FDSOI) CMOS
Autor/in / Beteiligte Person:	Calienes, Walter ; Vladimirescu, Bartra Andreas ; Reis, Ricardo
Quelle:	Semiconductor Devices in Harsh Conditions 2017; (2017) S. 43-66
Veröffentlichung:	2017
Medientyp:	Buch
ISBN:	978-1-4987-4380-8 (print) ; 978-1-315-36894-8 (print) ; 1-4987-4380-3 (print) ; 1-315-36894-3 (print)
DOI:	10.1201/9781315368948-4
Sonstiges:	Nachgewiesen in: Routledge Handbooks Online Sprachen: English Alternate Title: Simulation of Single-Event Effects on FDSOI CMOS Alternate Title: Semiconductor Devices in Harsh Conditions

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