Considerations for the Reliability Estimation of Silicon CMOS

Rauch, Stewart

In: Extreme Environment Electronics 2013; (2013) S. 455-458

Buch

Titel:	Considerations for the Reliability Estimation of Silicon CMOS
Autor/in / Beteiligte Person:	Rauch, Stewart
Quelle:	Extreme Environment Electronics 2013; (2013) S. 455-458
Veröffentlichung:	2013
Medientyp:	Buch
ISBN:	978-1-4398-7430-1 (print) ; 978-1-4398-7431-8 (print) ; 1-4398-7430-1 (print) ; 1-4398-7431-X (print)
DOI:	10.1201/b13001-48
Sonstiges:	Nachgewiesen in: Routledge Handbooks Online Sprachen: English Alternate Title: Considerations for the Reliability Estimation of Silicon CMOS Alternate Title: Extreme Environment Electronics

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