Achtung:
Auf dieses Seite bzw. Funktion können Sie nur zugreifen, wenn Sie sich im Campusnetz befinden oder angemeldet haben.
Analytical electron microscopy of planar faults in SrO-doped CaTiO<subscript>3</subscript>
In: Journal of Materials Research, Jg. 12 (1997-09-01), Heft 9, S. 2438-2446
Online
academicJournal
Zugriff:
Titel: |
Analytical electron microscopy of planar faults in SrO-doped CaTiO<subscript>3</subscript>
|
---|---|
Autor/in / Beteiligte Person: | Čeh, M. ; Gu, H. ; Müllejans, H. ; Rečnik, A. |
Link: | |
Zeitschrift: | Journal of Materials Research, Jg. 12 (1997-09-01), Heft 9, S. 2438-2446 |
Veröffentlichung: | 1997 |
Medientyp: | academicJournal |
ISSN: | 0884-2914 (print) ; 2044-5326 (print) |
DOI: | 10.1557/jmr.1997.0322 |
Sonstiges: |
|