Investigation of Characteristics of MIS Structures Based on MBE n-HgCdTe NBνN Barrier Structures by Admittance Spectroscopy

Voitsekhovskii, A. V. ; Dzyadukh, S. M. ; et al.

In: Journal of Communications Technology and Electronics, Jg. 68 (2023-09-01), Heft 9, S. 1036-1039

Online academicJournal

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Titel:	Investigation of Characteristics of MIS Structures Based on MBE n-HgCdTe NBνN Barrier Structures by Admittance Spectroscopy
Autor/in / Beteiligte Person:	Voitsekhovskii, A. V. ; Dzyadukh, S. M. ; Gorn, D. I. ; Dvoretskii, S. A. ; Mikhailov, N. N. ; Sidorov, G. Yu. ; Yakushev, M. V.
Link:	View record at Springer (Volltext)
Zeitschrift:	Journal of Communications Technology and Electronics, Jg. 68 (2023-09-01), Heft 9, S. 1036-1039
Veröffentlichung:	2023
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	1064-2269 (print) ; 1555-6557 (print)
DOI:	10.1134/s1064226923090279
Sonstiges:	Nachgewiesen in: Springer Nature Journals Sprachen: English

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