Bias dependence in statistical random telegraph noise analysis based on nanoscale CMOS ring oscillators
In: e+i Elektrotechnik und Informationstechnik, Jg. 141 (2024-03-01), Heft 1, S. 37-46
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Bias dependence in statistical random telegraph noise analysis based on nanoscale CMOS ring oscillators
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Autor/in / Beteiligte Person: | Ramazanoglu, Semih ; Michalowska-Forsyth, Alicja ; Deutschmann, Bernd |
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Zeitschrift: | e+i Elektrotechnik und Informationstechnik, Jg. 141 (2024-03-01), Heft 1, S. 37-46 |
Veröffentlichung: | 2024 |
Medientyp: | academicJournal |
ISSN: | 0932-383X (print) ; 1613-7620 (print) |
DOI: | 10.1007/s00502-023-01197-3 |
Sonstiges: |
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