Unsupervised Anomaly Detection Process Using LLE and HDBSCAN by Style-GAN as a Feature Extractor

Lee, Taeheon ; Kim, Yoonseok ; et al.

In: International Journal of Precision Engineering and Manufacturing, Jg. 25 (2024), Heft 1, S. 51-63

Online academicJournal

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Titel:	Unsupervised Anomaly Detection Process Using LLE and HDBSCAN by Style-GAN as a Feature Extractor
Autor/in / Beteiligte Person:	Lee, Taeheon ; Kim, Yoonseok ; Hyun, Youngjoo ; Mo, Jeonghoon ; Yoo, Youngjun
Link:	View record at Springer (Volltext)
Zeitschrift:	International Journal of Precision Engineering and Manufacturing, Jg. 25 (2024), Heft 1, S. 51-63
Veröffentlichung:	2024
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	2234-7593 (print) ; 2005-4602 (print)
DOI:	10.1007/s12541-023-00908-2
Sonstiges:	Nachgewiesen in: Springer Nature Journals Sprachen: English

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