Why and how ITRS worked to recover the breakdown of 'Scaling Law' in 2000s : structural frame analysis of Si-CMOS semiconductor technologies

Yasunaga, Yuko

In: IEEE transactions on engineering management, Jg. 68 (2021-08-01), Heft 4, S. 1179-1194

academicJournal

Titel:	Why and how ITRS worked to recover the breakdown of 'Scaling Law' in 2000s : structural frame analysis of Si-CMOS semiconductor technologies
Autor/in / Beteiligte Person:	Yasunaga, Yuko
Zeitschrift:	IEEE transactions on engineering management, Jg. 68 (2021-08-01), Heft 4, S. 1179-1194
Veröffentlichung:	2021
Medientyp:	academicJournal
Sonstiges:	Nachgewiesen in: ECONIS Sprachen: English Language: English Publication Type: Aufsatz in Zeitschriften (Article in journal) Document Type: Druckschrift Manifestation: Unselbstständiges Werk [Aufsatz, Rezension]

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