Supply Voltage Dependency on the Single Event Upset Susceptibility of Temporal Dual-Feedback Flip-Flops in a 90 nm Bulk CMOS Process.

Hasanbegovic, Amir ; Aunet, Snorre

In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 62 (2015-08-15), Heft 4b, S. 1888-1897

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Titel:	Supply Voltage Dependency on the Single Event Upset Susceptibility of Temporal Dual-Feedback Flip-Flops in a 90 nm Bulk CMOS Process.
Autor/in / Beteiligte Person:	Hasanbegovic, Amir ; Aunet, Snorre
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Zeitschrift:	IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 62 (2015-08-15), Heft 4b, S. 1888-1897
Veröffentlichung:	2015
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	0018-9499 (print)
DOI:	10.1109/TNS.2015.2454479
Sonstiges:	Nachgewiesen in: Environment Complete Sprachen: English

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