Alpha-Particle Induced Soft-Error Rate in CMOS 130 nm SRAM.

Martinie, S. ; Autran, J. L. ; et al.

In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 58 (2011-06-02), Heft 3, S. 1086-1092

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Titel:	Alpha-Particle Induced Soft-Error Rate in CMOS 130 nm SRAM.
Autor/in / Beteiligte Person:	Martinie, S. ; Autran, J. L. ; Uznanski, S. ; Roche, P. ; Gasiot, G. ; Munteanu, D. ; Sauze, S.
Link:	Volltext
Zeitschrift:	IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 58 (2011-06-02), Heft 3, S. 1086-1092
Veröffentlichung:	2011
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	0018-9499 (print)
DOI:	10.1109/TNS.2010.2102363
Sonstiges:	Nachgewiesen in: Environment Complete Sprachen: English

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