Worst-Case Test Vectors for Logic Faults Induced by Total Dose in ASICs Using CMOS Processes Exhibiting Field-Oxide Leakage.

Abou-Auf, Ahmed A. ; Abdel-Aziz, Hamzah A. ; et al.

In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 58 (2011-06-02), Heft 3, S. 1047-1052

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Titel:	Worst-Case Test Vectors for Logic Faults Induced by Total Dose in ASICs Using CMOS Processes Exhibiting Field-Oxide Leakage.
Autor/in / Beteiligte Person:	Abou-Auf, Ahmed A. ; Abdel-Aziz, Hamzah A. ; Wassal, Amr G.
Link:	Volltext
Zeitschrift:	IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 58 (2011-06-02), Heft 3, S. 1047-1052
Veröffentlichung:	2011
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	0018-9499 (print)
DOI:	10.1109/TNS.2011.2128346
Sonstiges:	Nachgewiesen in: Environment Complete Sprachen: English

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