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    Evaluation of advanced semiconductor materials by electron microscopy: [proceedings of a NATO Advanced Research Workshop on the Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy, held September 12 - 17, 1988, in Bristol, United Kingdom]
    ed. by David Cherns
    New York [u.a.]: Plenum Press, 1989
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Surface and interface characterization by electron optical methods: [proceedings of a NATO Advanced Study Institute on the Study of Surfaces and Interfaces by Electron Optical Techniques held April 4 - 15, 1987, in Erice, Sicily, Italy]
    ed. by A. Howie ..
    New York [u.a.]: Plenum Press, 1988
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Nanosources and manipulation of atoms under high fields and temperatures: applications ; [proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Manipulations of Atoms Under High Fields and Temperatures: Applications, Lyon, France, 6 - 10 July 1992]
    ed. by Vu Thien Binh ..
    Dordrecht [u.a.]: Kluwer, 1993
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Scanning tunneling microscopy
    ed. by H. Neddermeyer
    Dordrecht [u.a.]: Kluwer Academic Publ, 1993
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Raster-Tunnel-Mikroskopie
    Claus Hamann ; Michael Hietschold
    Berlin: Akad.-Verl, 1991
    Monographie, Gedruckte Ressource
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Scanning tunneling microscopy
    ed. by Joseph A. Stroscio ..
    San Diego [u.a.]: Acad. Press, 1993
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Scanning tunneling microscopy and its application
    Chunli Bai
    Shanghai: Shanghai Scientific & Technical Publ. [u.a.], 1995
    Monographie, Gedruckte Ressource
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    Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy: route to femtosecond Ångstrom technology
    M. Yamashita ... (eds.)
    Berlin [u.a.]: Springer, 2005
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Scanning force microscopy: with applications to electric, magnetic, and atomic forces
    Dror Sarid
    Rev. ed.. - New York [u.a.]: Oxford Univ. Press, 1994
    Monographie, Gedruckte Ressource
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Raster-Elektronenmikroskopie
    L. Reimer ; G. Pfefferkorn
    2., neubearb. u. erw. Aufl.. - Berlin [u.a.]: Springer, 1977
    Monographie, Einführung, Gedruckte Ressource
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    The scanning electron microscope, 1. The instrument
    by C. W. Oatley
    Cambridge: Cambridge Univ. Pr, 1972
    Monographie, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    In situ scanning electron microscopy in materials research
    ed. by Klaus Wetzig ..
    1. ed.. - Berlin: Akad.-Verl, 1995
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    SEM microcharacterization of semiconductors
    ed. by D. B. Holt ..
    London [u.a.]: Academic Pr, 1989
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Specimen preparation for transmission electron microscopy of materials
    Goodhew, Peter J.
    Oxford [u.a.]: Oxford Univ. Pr. [u.a.], 1984
    Monographie, Gedruckte Ressource
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    SCANNING ELECTRON MICROSCOPY - SYSTEMS AND APPLICATIONS 1973. PROCEEDINGS OF A CONFERENCE ORGANIZED BY THE ELECTRON MICROSCOPY AND ANALYSIS GROUP OF THE INSTITUTE OF PHYSICS HELD AT THE UNIVERSITY OF NEWCASTLE UPON TYNE, 3-5 JULY 1973
    LONDON: INSTITUTE OF PHYSICS, 1973
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Electron optical systems for microscopy, microanalysis ¤ [and] microlithography: proceedings of the 3rd Pfefferkorn Conference, held April 9 to 14, 1984, at the Carousel Hotel, Ocean City, MD
    publ. by Scanning Electron Microscopy, Inc. Ed. by John J. Hren ..
    O'Hare, IL [i.e. Chicago, Ill.], 1984
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Scanning electron microscopy
    by Oliver C. Wells with portions contributed by ..
    New York [u.a.]: McGraw-Hill, 1974
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Transmission electron microscopy: physics of image formation and microanalysis
    Ludwig Reimer
    4. ed.. - Berlin [u.a.]: Springer, 1997
    Monographie, Gedruckte Ressource
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Transmission electron microscopy: physics of image formation and microanalysis
    Reimer, Ludwig (1928-)
    2. ed.. - Berlin [u.a.]: Springer, 1989
    Monographie, Gedruckte Ressource
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Einführung in die Elektronenmikroskopie: Verfahren zur Untersuchung von Werkstoffen und anderen Festkörpern
    Manfred von Heimendahl
    Braunschweig: Vieweg, 1970
    Monographie, Einführung, Gedruckte Ressource

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