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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Scanning tunneling microscopy
    ed. by H. Neddermeyer
    Dordrecht [u.a.]: Kluwer Academic Publ, 1993
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Raster-Tunnel-Mikroskopie
    Claus Hamann ; Michael Hietschold
    Berlin: Akad.-Verl, 1991
    Monographie, Gedruckte Ressource
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    Scanning tunneling microscopy
    ed. by Joseph A. Stroscio ..
    San Diego [u.a.]: Acad. Press, 1993
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Scanning tunneling microscopy and its application
    Chunli Bai
    Shanghai: Shanghai Scientific & Technical Publ. [u.a.], 1995
    Monographie, Gedruckte Ressource
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    Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy: route to femtosecond Ångstrom technology
    M. Yamashita ... (eds.)
    Berlin [u.a.]: Springer, 2005
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Scanning force microscopy: with applications to electric, magnetic, and atomic forces
    Dror Sarid
    Rev. ed.. - New York [u.a.]: Oxford Univ. Press, 1994
    Monographie, Gedruckte Ressource
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    Raster-Elektronenmikroskopie
    L. Reimer ; G. Pfefferkorn
    2., neubearb. u. erw. Aufl.. - Berlin [u.a.]: Springer, 1977
    Monographie, Einführung, Gedruckte Ressource
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    Diffraction and imaging techniques in material science
    ed. S. Amelinckx ..
    2. REV. ED., REPR.. - Amsterdam [u.a.]: NORTH-HOLLAND PUBL. CO, 1979
    Konferenzschrift, Schriftenreihe, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Experimental high resolution electron microscopy
    John C. H. Spence
    (2. ed.). - New York [u.a.]: Oxford Univ. Pr, 1988
    Monographie, Gedruckte Ressource
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Computer processing of electron microscope images
    ed. by Peter W. Hawkes. With contributions by J. Frank ..
    Berlin [u.a.]: Springer, 1980
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Image analysis, enhancement and interpretation
    D. L. Misell
    Amsterdam [u.a.]: North-Holland Publ. Co, 1978
    Monographie, Gedruckte Ressource
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Electron microscopy and analysis, 1981. Held at the University of Cambridge, 7 - 10 September 1981 (EMAG 81): proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference
    Institute of Physics, London, Electron Microscopy and Analysis Group
    London: Institute of Physics, 1982
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    In situ scanning electron microscopy in materials research
    ed. by Klaus Wetzig ..
    1. ed.. - Berlin: Akad.-Verl, 1995
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    SEM microcharacterization of semiconductors
    ed. by D. B. Holt ..
    London [u.a.]: Academic Pr, 1989
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Specimen preparation for transmission electron microscopy of materials
    Goodhew, Peter J.
    Oxford [u.a.]: Oxford Univ. Pr. [u.a.], 1984
    Monographie, Gedruckte Ressource
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    SCANNING ELECTRON MICROSCOPY - SYSTEMS AND APPLICATIONS 1973. PROCEEDINGS OF A CONFERENCE ORGANIZED BY THE ELECTRON MICROSCOPY AND ANALYSIS GROUP OF THE INSTITUTE OF PHYSICS HELD AT THE UNIVERSITY OF NEWCASTLE UPON TYNE, 3-5 JULY 1973
    LONDON: INSTITUTE OF PHYSICS, 1973
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Electron optical systems for microscopy, microanalysis ¤ [and] microlithography: proceedings of the 3rd Pfefferkorn Conference, held April 9 to 14, 1984, at the Carousel Hotel, Ocean City, MD
    publ. by Scanning Electron Microscopy, Inc. Ed. by John J. Hren ..
    O'Hare, IL [i.e. Chicago, Ill.], 1984
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Scanning electron microscopy
    by Oliver C. Wells with portions contributed by ..
    New York [u.a.]: McGraw-Hill, 1974
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Transmission electron microscopy: physics of image formation and microanalysis
    Ludwig Reimer
    4. ed.. - Berlin [u.a.]: Springer, 1997
    Monographie, Gedruckte Ressource
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Transmission electron microscopy: physics of image formation and microanalysis
    Reimer, Ludwig (1928-)
    2. ed.. - Berlin [u.a.]: Springer, 1989
    Monographie, Gedruckte Ressource

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