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    Spectroscopy of semiconductor microstructures: [proceedings of a NATO Advanced Research Workshop on Spectroscopy of Semiconductor Microstructures held May 9 - 13, 1989, in Venice, Italy]
    ed. by Gerhard Fasol ..
    New York [u.a.]: Plenum Press, 1989
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Semiconductor measurements and instrumentation
    W. R. Runyan and T. J. Shaffner
    2. ed.. - New York [u.a.]: McGraw-Hill, 1997
    Monographie, Gedruckte Ressource
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    Ellipsometry for industrial applications
    Karl Riedling
    Wien [u.a.]: Springer, 1988
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Proceedings of the Electrochemical Society Symposium on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices
    ed.: P. Rai-Choudhury ..
    Pennington, NJ: Electrochemical Soc, 1997
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Optical characterization of semiconductors: infrared, raman, and photoluminescence spectroscopy
    Sidney Perkowitz
    London [u.a.]: Academic Press, 1993
    Monographie, Gedruckte Ressource
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    Electrical characterization of GaAs materials and devices
    Look, David C.
    Chichester [u.a.]: Wiley, 1989
    Monographie, Gedruckte Ressource
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Proceedings of the Symposium on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices
    Electronics Divisions. Eds. D. K. Schroder ..
    Pennington, NJ: Electrochemical Society, 1994
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Hall effect devices: magnetic sensors and characterization of semiconductors
    R. S. Popović
    Bristol [u.a.]: Hilger, 1991
    Monographie, Gedruckte Ressource
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    The role of microscopy in semiconductor failure analysis
    B. P. Richards and P. K. Footner
    Oxford: Oxford Univ. Press [u.a.], 1992
    Monographie, Gedruckte Ressource
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Industrial applications of holography
    [International Symposium on Industrial Uses of Holography in Las Cruces, New Mexico]. Ed. by Jean Robillard ..
    New York [u.a.]: Oxford Univ. Pr, 1990
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Evaluation of advanced semiconductor materials by electron microscopy: [proceedings of a NATO Advanced Research Workshop on the Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy, held September 12 - 17, 1988, in Bristol, United Kingdom]
    ed. by David Cherns
    New York [u.a.]: Plenum Press, 1989
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Measurement of high speed signals in solid state devices
    vol. ed. Robert B. Marcus
    Boston [u.a.]: Acad. Press, 1990
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Untersuchung mechanischer Eigenschaften von hochgefüllten Duromeren für die Anwendung in der Mikroelektronik
    vorgelegt von Frank Rehme
    1997
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Semiconductor characterization techniques: proceedings of the Top. Conference on Characterization Techniques for Semiconductor Materials and Devices
    ed. by Peter A. Barnes ..
    [Nachdr. d. Ausg.] Princeton, NJ, Electronics Div., The Electrochem. Soc., 1978. - Ann Arbor, Mich.: Univ. Microfilms Internat, 1984
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Semiconductor material and device characterization
    Schroder, Dieter K.
    New York [u.a.]: Wiley, 1990
    Monographie, Gedruckte Ressource
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Semiconductor measurements and instrumentation
    W. R. Runyan
    International student edition. - Tokyo [u.a.]: McGraw-Hill Kogakusha, 1975
    Monographie, Gedruckte Ressource
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Electrical characterization of silicon-on-insulator materials and devices
    by Sorin Cristoloveanu and Sheng S. Li
    Boston [u.a.]: Kluwer, 1995
    Monographie, Gedruckte Ressource
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    International Conference on Modulation Spectroscopy: 19 - 21 March 1990, San Diego, California
    sponsored by SPIE - The International Society for Optical Engineering. Fred H. Pollak ..., chairs/ed
    Bellingham, Wash., 1990
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    SEM microcharacterization of semiconductors
    ed. by D. B. Holt ..
    London [u.a.]: Academic Pr, 1989
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Acoustic, thermal wave and optical characterization of materials: proceedings of Symposium C on Acoustic, Thermal Wave and Optical Characterization of Materials of the 1989 E-MRS Conference Strasbourg, France, May 30 - June 2, 1989
    ed. by G. M. Crean ..
    Amsterdam [u.a.]: North-Holland, 1990
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource

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