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    Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices: lectures pres. at the NATO Advanced Study Institute on Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices, held at the Villa Tuscolano, Italy, Sept. 19-29, 1978
    Zemel, Jay N.
    New York, NY: Plenum Press, 1979
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Industrial applications of holography
    [International Symposium on Industrial Uses of Holography in Las Cruces, New Mexico]. Ed. by Jean Robillard ..
    New York [u.a.]: Oxford Univ. Pr, 1990
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Evaluation of advanced semiconductor materials by electron microscopy: [proceedings of a NATO Advanced Research Workshop on the Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy, held September 12 - 17, 1988, in Bristol, United Kingdom]
    ed. by David Cherns
    New York [u.a.]: Plenum Press, 1989
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Growth and characterisation of semiconductors: papers contributing to a short course organised by the Departments of Materials and Physics with the Continuing Education Centre at Imperial College, in association with ..
    ed. by R. A. Stradling ..
    Repr. with corr.. - Bristol [u.a.]: Hilger, 1991
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Spectroscopy of semiconductor microstructures: [proceedings of a NATO Advanced Research Workshop on Spectroscopy of Semiconductor Microstructures held May 9 - 13, 1989, in Venice, Italy]
    ed. by Gerhard Fasol ..
    New York [u.a.]: Plenum Press, 1989
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Electromagnetic nondestructive evaluation, 5. [A selection of papers presented at the Sixth International Workshop on Electromagnetic Nondestructive Evaluation (ENDE), held in Budapest, Hungary, from 28th to 30th June] / ed. by J. Pávó ..
    Amsterdam [u.a.]: IOS Pr, 2001
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Photons and local probes: [proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Photons and Local Probes, Reichenau, Germany, September 11 - 17, 1994]
    ed. by Othmar Marti ..
    Dordrecht [u.a.]: Kluwer Acad. Publ, 1995
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Acoustic, thermal wave and optical characterization of materials: proceedings of Symposium C on Acoustic, Thermal Wave and Optical Characterization of Materials of the 1989 E-MRS Conference Strasbourg, France, May 30 - June 2, 1989
    ed. by G. M. Crean ..
    Amsterdam [u.a.]: North-Holland, 1990
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Electromagnetic nondestructive evaluation, 2. [A selection of papers presented at the Third International Workshop on Electromagnetic Nondestructive Evaluation )E'NDE, held from 14th to 16th September, 1997 at Reggio Calabria, Italy] / ed. by R. Albanese ..
    Amsterdam [u.a.]: IOS Pr, 1998
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Electromagnetic nondestructive evaluation, 4. [A selection of papers presented at the Fifth International Workshop on Electromagnetic Nondestructive Evaluation, held in Des Moines, Iowa, U.S.A., from August 1 through 3, 1999] / ed. by S. S. Udpa ..
    Amsterdam [u.a.]: IOS Pr, 2000
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Electromagnetic nondestructive evaluation, 3. [The E'NDE '98 Workshop] / ed. by D. Lesselier ..
    Amsterdam [u.a.]: IOS Pr, 1999
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Advanced processing and characterization of semiconductors, 3. 22 - 24 Jan. 1986, Los Angeles, Calif: annual conference
    SPIE, The International Society for Optical Engineering
    Bellingham, Wash.: SPIE, 1986
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, keine Angabe
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Photoacoustic and photothermal phenomena, 2. Proceedings of the 6. International Topical Meeting, Baltimore, Maryland, July 31 - August 3, 1989
    Berlin [u.a.]: Springer, 1990
    Aufsatzsammlung, Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Electromagnetic nondestructive evaluation, [1]. [papers ... presented at the Second International Workshop on Electromagnetic Nondestructive Evaluation, held at the University of Tokyo in October 1996] / ed. by T. Takagi ..
    Amsterdam [u.a.]: IOS Pr, 1997
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    High energy and high dose ion implantation: proceedings of Symposium C on High Energy Ion Implantation and Symposium D on Ion Beam Synthesis of Compound and Elemental Layers of the 1991 E-MRS Spring Conference ; Strasbourg, France, May 28 - 31, 1991
    ed. by S. U. Campisano ..
    Amsterdam [u.a.]: North-Holland, 1992
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Proceedings of the Electrochemical Society Symposium on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices
    ed.: P. Rai-Choudhury ..
    Pennington, NJ: Electrochemical Soc, 1997
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Modern optical characterization techniques for semiconductors and semiconductor devices: 26 - 27 March 1987, Bay Point, Florida
    O. J. Glembocki ... Chairs/ed
    Bellingham, Wash.: SPIE - the Internat. Soc. for Opt. Engineering, 1987
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Spectroscopic characterization techniques for semiconductor technology, [1]. 9 - 10 Nov. 1983, Cambridge, Mass: conference
    SPIE, The International Society for Optical Engineering
    Bellingham, Wash.: SPIE, 1984
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Proceedings of the Symposium on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices
    Electronics Divisions. Eds. D. K. Schroder ..
    Pennington, NJ: Electrochemical Society, 1994
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Semiconductor characterization: present status and future needs
    ed.: W. M. Bullis ..
    Woodbury, NY: AIP Press, 1996
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource

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