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    Analog circuit design: low noise, low power, low voltage ; mixed mode design with CAD tools ; voltage, current and time references ; [this papers are the revised versions of the papers presented at the Workshop on Advances in Analog Circuit Design, which was held in Villach, Austria, 26 - 28 April 1995]
    edited by Johan H. Huijsing ..
    Boston [u.a.]: Kluwer, 1996
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Analog methods for computer-aided circuit analysis and diagnosis
    ed. by Takao Ozawa
    1. print. - New York [u.a.]: Dekker, 1988
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Advanced research in VLSI and parallel systems: proceedings of the 1992 Brown/MIT Conference
    [Brown/MIT Conference on Advanced Research in VLSI and Parallel Systems]. Ed. by Thomas Knight ..
    Cambridge, Mass. [u.a.]: MIT Press, 1992
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Failure analysis of integrated circuits: tools and techniques
    ed. by Lawrence C. Wagner
    Boston [u.a.]: Kluwer, 1999
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Plastic encapsulated microelectronics: materials, processes, quality, reliability, and applications
    edited by Michael G. Pecht ..
    New York [u.a.]: Wiley, 1995
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Selected papers on statistical design of integrated circuits
    ed. by Andrzej J. Strojwas
    New York: IEEE Press, 1987
    Aufsatzsammlung, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Knowledge based systems for test and diagnosis: proceedings of the IFIP WG 10.5 International Workshop on Knowledge Based Systems for Test and Diagnosis, Grenoble, France, 27 - 29 September, 1988
    ed. by G. Saucier ..
    Amsterdam [u.a.]: North-Holland, 1989
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Tutorial: test generation for VLSI chips
    Vishwani D. Agrawal ; Sharad C. Seth
    Washington, DC: Computer Soc. Pr, 1988
    Aufsatzsammlung, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    An International Conference on Thermal Infrared Sensing for Diagnostics and Control: (Thermosense IX) ; 18 - 20 May 1987, Orlando, Florida
    Robert P. Madding, chair/editor
    Bellingham, Wash.: SPIE, 1987
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Electron beam testing technology
    ed. by John T. L. Thong
    New York [u.a.]: Plenum Pr, 1993
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Using WAVES and VHDL for effective design and testing: [a practical and useful tutorial and application guide for the Waveform and vector exchange specification (WAVES)]
    James P. Hanna ..
    Boston, Mass. [u.a.]: Kluwer, 1997
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Reliability and degradation: semiconductor devices and circuits
    ed. by M. J. Howes ..
    Chichester [u.a.]: Wiley, 1981
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Optics in metrology and quality assurance: Febr. 6 - 7, 1980, Los Angeles, Calif
    Harvey L. Kasdan, ed
    Bellingham, Wash.: SPIE - The Internat. Soc. for Opt. Engineering, 1980
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    High performance mass storage and parallel I, O: technologies and applications
    ed. by Hai Jin ..
    Piscataway, N.J.: IEEE Press [u.a.], 2002
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource

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