Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog
12 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich UB Katalog: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

12 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Electrical overstress protection for electronic devices
    Robert J. Antinone ..
    Park Ridge, NJ: Noyes, 1986
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Handbuch elektromagnetische Verträglichkeit: Grundlagen, Maßnahmen, Systemgestaltung
    Hrsg.: Zentrum für Forschung u. Technologie d. VEB Elektroprojekt u. Anlagenbau, Berlin. [Autoren: Hartmut Bauer ... Red. Leitung: Ernst Habiger]
    Berlin [u.a.]: vde-Verl, 1987
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Elektromagnetische Verträglichkeit: EMV ; Vorträge, gehalten auf d. Kongress in Karlsruhe, Bundesrepublik Deutschland, 13. - 15. März 1990
    [EMV '90]. MESAGO, Messe & Kongress GmbH. Hrsg.: H. R. Schmeer
    Berlin [u.a.]: Vde-Verl, 1990
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Noise in physical systems and 1/f fluctuations
    [ICNF-91]. Ed. by T. Musha ..
    Tokyo [u.a.]: Ohmsha [u.a.], 1992
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Electromigration and electronic device degradation
    edited by Aris Christou
    New York [u.a.]: Wiley, 1994
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Elektromagnetische Verträglichkeit
    EMV '92, 3. Int. Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, 25. - 27. Februar 1992. Veranst: MESAGO Messe und Kongress GmbH, Stuttgart. Hrsg.: H. R. Schmeer
    Berlin [u.a.]: vde-Verl, 1992
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    ESD - elektrostatische Entladungen: ein Zuverlässigkeitsproblem in der Elektronikindustrie ; mit 24 Tabellen
    von Hermann Baumgärtner ; Reinhold Gärtner
    München [u.a.]: Oldenbourg, 1997
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Quantum 1/f noise & other low frequency fluctuations in electronic devices: St. Louis, MO 1992
    [Fifth Van der Ziel Symposium on Quantum 1/f Noise and Other Low Frequency Fluctuations in Electronic Devices]. Ed.: Peter H. Handel ..
    New York: American Inst. of Physics, 1993
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Electrostatic damage in the electronics industry: proceedings of a one-day meeting of the Static Electrification Group of the Institute of Physics, 9 December 1987
    ed.: J. L. Sproston
    Bristol: IOP Publ, 1987
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Electrical noise: fundamentals & sources
    ed. by Madhu S. Gupta
    New York: IEEE Press, 1977
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Selected papers on noise in circuits and systems
    ed. by Madhu S. Gupta
    New York: IEEE Press, 1988
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Frequency stability: fundamentals and measurement
    ed. by Venceslav F. Kroupa
    New York: IEEE Pr, 1983
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource

Artikel & mehr

xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -