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    Reliability physics: annual proceedings
    International Reliability Physics Symposium. Sponsored by the IEEE Electron Devices Society and the IEEE Reliability Society
    New York, NY: IEEE, 1974-1989
    Zeitschrift, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
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    Digest of papers
    Test Conference. Sponsored by IEEE Computer Society, Test Technology Committee and the Philadelphia Section of the IEEE
    New York, NY: Inst. of Electrical and Electronics Engineers, 1979-1980
    Zeitschrift, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
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    Proceedings of the ... IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures: ICMTS
    sponsored by IEEE Electron Devices Society
    New York, NY: Inst. of Electr. and Electronics Engineers, 1988-1989
    Zeitschrift, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
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    Proceedings / IEEE ... Workshop on Simulation & Test Generation Environments. IEEE Couter Society, Test Technology Committee
    Workshop on Simulation and Test Generation Environments
    Washington, DC: IEEE Computer Soc. Pr, 1986-
    Zeitschrift, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
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    Proceedings / International Test Conference. Sponsored by: The IEEE Computer Soc. Test Technology Committee
    International Test Conference
    Los Angeles, Calif.: Computer Soc. Press, 1983-1989
    Zeitschrift, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
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    Digest of papers
    Semiconductor Test Symposium. Sponsored by IEEE Computer Society
    New York, NY: IEEE, 1974-1977
    Zeitschrift, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
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    Digest of papers
    Semiconductor Test Conference. Sponsored by IEEE Computer Society .
    New York, NY: Inst. of Electr. and Electronics Engineers, 1978
    Zeitschrift, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
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    Digest of papers: annual symposium
    Symposium on Semiconductor Memory Testing. Sponsored by IEEE Computer Society Mideastern Area Committee ; Philadelphia Chapter, Institute of Electrical and Electronics Engineers
    New York, NY: Inst. of Electr. and Electronics Engineers, 1973
    Zeitschrift, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
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    Relectronic: Proceedings ... Symposium on Reliability in Electronics
    Symposium on Reliability in Electronics
    Budapest: OMKDK-Technoinform, 1973-1988
    Zeitschrift, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
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    Digest of papers
    International Test Conference. Sponsored by the IEEE Computer Society, Test Technology Committee and the Philadelphia Section of the IEEE
    New York, NY: IEEE, 1981-1982
    Zeitschrift, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource

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