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31 Treffer

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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Progress in pattern recognition, image analysis and applications: proceedings
    11th Iberoamerican Congress on Pattern Recognition, CIARP 2006, Cancun, Mexico, November 14-17, 2006. José Francisco Martínez-Trinidad ... (eds.)
    Berlin [u.a.]: Springer, 2006
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Combinatorial image analysis: 11th international workshop ; proceedings
    IWCIA 2006, Berlin, Germany, June 19 - 21, 2006. Ralf Reulke ... (eds.)
    Berlin [u.a.]: Springer, 2006
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Computer vision approaches to medical image analysis: revised papers
    second international ECCV workshop, CVAMIA 2006, Graz, Austria, May 12, 2006. Reinhard R. Beichel ... (eds.)
    Berlin [u.a.]: Springer, 2006
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Image analysis and processing: 13th international conference, Cagliari, Italy, September 6 - 8, 2005 ; proceedings
    ICIAP 2005. Fabio Roli ... (eds.)
    Berlin [u.a.]: Springer, 2005
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Progress in pattern recognition, image analysis and applications: proceedings
    10th Iberoamerican Congress on Pattern Recognition, CIARP 2005, Havana, Cuba, November 15 - 18, 2005. Alberto Sanfeliu .. (ed.)
    Berlin: Springer, 2005
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Computer analysis of images and patterns: 11th international conference ; proceedings
    CAIP 2005, Versailles, France, September 5 - 8, 2005. André Gagalowicz ... (ed.)
    Berlin, Heidelberg, New York: Springer, 2005
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Image analysis and recognition: second international conference
    ICIAR 2005, Toronto, Canada, September 28 - 30, 2005. Mohamed Kamel ; Aurélio Campilho (ed.)
    Berlin, Heidelberg, New York: Springer, 2005
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Deep structure, singularities, and computer vision: first international workshop ; revised selected papers
    DSSCV 2005, Maastricht, The Netherlands, June 9 - 10, 2005. Ole Fogh Olsen ... (ed.)
    Berlin, Heidelberg, New York: Springer, 2005
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Progress in pattern recognition, image analysis and applications: proceedings
    9th Iberoamerican Congress on Pattern Recognition, CIARP 2004, Puebla, Mexico, October 26 - 29, 2004. Alberto Sanfeliu ... (ed.)
    Berlin [u.a.]: Springer, 2004
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Computer vision and mathematical methods in medical and biomedical image analysis: revised selected papers
    ECCV 2004 Workshops CVAMIA and MMBIA, Prague, Czech Republic, May 15, 2004. Milan Šonka ... (eds.)
    Berlin [u.a.]: Springer, 2004
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Combinatorial image analysis: 10th international workshop ; proceedings
    IWCIA 2004, Auckland, New Zealand, December 1 - 3, 2004. Reinhard Klette ... (eds.)
    Berlin [u.a.]: Springer, 2004
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
    Zugriff:
    Inhaltsverzeichnis; Volltext nur bei Lizensierung
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Pattern recognition and image analysis: proceedings
    first Iberian conference, IbPRIA 2003, Puerto de Andratx, Mallorca, Spain, June 4 - 6, 2003. Francisco José Perales ... (eds.)
    Berlin [u.a.]: Springer, 2003
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Computer analysis of images and patterns: 10th international conference ; proceedings
    CAIP 2003, Groningen, The Netherlands, August 25 - 27, 2003. Nicolai Petkov ... (eds.)
    Berlin [u.a.]: Springer, 2003
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Image analysis: 13th Scandinavian Conference ; proceedings
    SCIA 2003, Halmstad, Sweden, June 29 - July 2, 2003. Josef Bigun ... (eds.)
    Berlin [u.a.]: Springer, 2003
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Progress in pattern recognition, speech and image analysis: proceedings
    8th Iberoamerican Congress on Pattern Recognition, CIARP 2003, Havana, Cuba, November 26 - 29, 2003. Alberto Sanfeliu ... (ed.)
    Berlin [u.a.]: Springer, 2003
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Geometry, morphology, and computational imaging: revised papers
    11th International Workshop on Theoretical Foundations of Computer Vision, Dagstuhl Castle, Germany, April 7 - 12, 2002. Tetsuo Asano ... (ed.)
    Berlin [u.a.]: Springer, 2003
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Multi-image analysis: revised papers
    10th International Workshop on Theoretical Foundations of Computer Vision, Dagstuhl Castle, Germany, March 12 - 17, 2000. Reinhard Klette ... (eds.)
    Berlin [u.a.]: Springer, 2001
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
    Zugriff:
    Volltext für Abonnenten der Serie (aus dem Hochschulnetz der betr. Univ.); für alle anderen Inhaltsverzeichnis und Abstracts
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Multiple classifier systems: second international workshop ; proceedings
    MCS 2001, Cambridge, UK, July 2 - 4, 2001. Josef Kittler ... (ed.)
    Berlin [u.a.]: Springer, 2001
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Multiple classifier systems: first international workshop ; proceedings
    MCS 2000, Cagliari, Italy, June 21 - 23, 2000. Josef Kittler ... (eds.)
    Berlin [u.a.]: Springer, 2000
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Image analysis: applications in materials engineering
    Leszek Wojnar
    Boca Raton [u.a.]: CRC Press, 1999
    Monographie, Gedruckte Ressource

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