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  1. Detailansicht für Treffer 21 öffnen
    Proceedings / International Test Conference 1999: [September 28 - 30, 1999, New Atlantic City Convention Center, Atlantic City, NJ, USA]
    International Test Conference, 30, 1999, Atlantic City, NJ
    Washington, DC: International Test Conference [u.a.], 1999
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  2. Detailansicht für Treffer 22 öffnen
    Meeting the tests of time: proceedings
    International Test Conference 1989, August 29 - 31, 1989, Sheraton Washington Hotel, Washington, DC. Sponsored by the IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee ..
    Washington, D.C. [u.a.]: IEEE Computer Soc. Pr, 1989
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  3. Detailansicht für Treffer 23 öffnen
    System test and diagnosis
    by William R. Simpson and John W. Sheppard
    Boston [u.a.]: Kluwer Acad. Publ, 1994
    Monographie, Gedruckte Ressource
  4. Detailansicht für Treffer 24 öffnen
    LSI/VLSI testability design
    Tsui, Frank F.
    1. [Dr.]. - New York [u.a.]: McGraw-Hill, 1987
    Monographie, Gedruckte Ressource
  5. Detailansicht für Treffer 25 öffnen
    The three faces of test: design, characterization, production: proceedings
    International Test Conference 1984, October 16, 17, 18, 1984
    Silver Spring, Md.: IEEE Computer Soc. Pr, 1984
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  6. Detailansicht für Treffer 26 öffnen
    Failure analysis of integrated circuits: tools and techniques
    ed. by Lawrence C. Wagner
    Boston [u.a.]: Kluwer, 1999
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  7. Detailansicht für Treffer 27 öffnen
    Testing's impact on design & [and] technology: September 8, 9, 10, 11, 1986 ; proceedings
    International Test Conference 1986
    Washington, DC: IEEE Computer Soc. Press, 1986
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  8. Detailansicht für Treffer 28 öffnen
    Introduction to component testing: application electronics
    Anthony K. Stevens
    Reading, Mass. [u.a.]: Addison-Wesley, 1986
    Monographie, Gedruckte Ressource
  9. Detailansicht für Treffer 29 öffnen
    Proceedings / International Test Conference 1997: [November 1 - 6, 1997, Sheraton Washington Hotel, Washington, DC, USA]
    [sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee ..
    Washington, DC: International Test Conference [u.a.], 1997
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  10. Detailansicht für Treffer 30 öffnen
    Proceedings / International Test Conference 1998
    International Test Conference, 29, 1998, Washington, DC
    Washington, DC: International Test Conference [u.a.], 1998
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  11. Detailansicht für Treffer 31 öffnen
    Plastic encapsulated microelectronics: materials, processes, quality, reliability, and applications
    edited by Michael G. Pecht ..
    New York [u.a.]: Wiley, 1995
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  12. Detailansicht für Treffer 32 öffnen
    Selected papers on statistical design of integrated circuits
    ed. by Andrzej J. Strojwas
    New York: IEEE Press, 1987
    Aufsatzsammlung, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  13. Detailansicht für Treffer 33 öffnen
    Post-digital electronics
    F. R. Pettit
    Chichester: Horwood [u.a.], 1982
    Monographie, Gedruckte Ressource
  14. Detailansicht für Treffer 34 öffnen
    Integrated circuit failure analysis: a guide to preparation techniques
    Friedrich Beck
    Chichester [u.a.]: Wiley, 1998
    Monographie, Gedruckte Ressource
  15. Detailansicht für Treffer 35 öffnen
    Knowledge based systems for test and diagnosis: proceedings of the IFIP WG 10.5 International Workshop on Knowledge Based Systems for Test and Diagnosis, Grenoble, France, 27 - 29 September, 1988
    ed. by G. Saucier ..
    Amsterdam [u.a.]: North-Holland, 1989
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  16. Detailansicht für Treffer 36 öffnen
    High level test synthesis of digital VLSI circuits
    Mike Tien-Chien Lee
    Boston [u.a.]: Artech House, 1997
    Monographie, Gedruckte Ressource
  17. Detailansicht für Treffer 37 öffnen
    Testability concepts for digital ICs: the macro test approach
    by F. P. M. Beenker, R. G. Bennetts and A. P. Thijssen
    Dordrecht [u.a.]: Kluwer, 1995
    Monographie, Gedruckte Ressource
  18. Detailansicht für Treffer 38 öffnen
    Proceedings / European Design & Test Conference, ED & TC 97: March 17 - 20, 1997, Paris, France
    sponsored by European Design and Automation Association ..
    Los Alamitos, Calif. [u.a.]: IEEE Computer Soc. Press, 1997
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  19. Detailansicht für Treffer 39 öffnen
    Tutorial: test generation for VLSI chips
    Vishwani D. Agrawal ; Sharad C. Seth
    Washington, DC: Computer Soc. Pr, 1988
    Aufsatzsammlung, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  20. Detailansicht für Treffer 40 öffnen
    New frontiers in testing: proceedings ; September 12, 13, 14, 1988, Sheraton Washington Hotel, Washington, DC
    International Test Conference 1988. Sponsored by the Computer Society of the IEEE ..
    Washington, D.C.: IEEE Computer Soc. Press, 1988
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource

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