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  1. Detailansicht für Treffer 21 öffnen
    Integrated circuit and system design: power and timing modeling, optimization and simulation ; 13th International Workshop ; proceedings
    PATMOS 2003, Torino, Italy, September 10 - 12, 2003. Jorge Juan Chico ... (eds.)
    Berlin [u.a.]: Springer, 2003
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  2. Detailansicht für Treffer 22 öffnen
    Integrated circuit and system design: power and timing modeling, optimization and simulation ; 16th international workshop ; proceedings
    PATMOS 2006, Montpellier, France, September 13 - 15, 2006. Johan Vounckx ... (eds.)
    Berlin [u.a.]: Springer, 2006
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  3. Detailansicht für Treffer 23 öffnen
    System level design: Proceedings
    IEEE Computer Society Workshop on VLSI '98, April 16 - 17, 1998, Orlando, Fla. Ed. by Asim Smailagic ..
    Los Alamitos, Calif. [u.a.]: IEEE Computer Soc, 1998
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  4. Detailansicht für Treffer 24 öffnen
    Proceedings / Seventh Asian Test Symposium: (ATS '98) ; December 2 - 4, 1998, Singapore
    Sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee
    Los Alamitos, Calif. [u.a.]: IEEE Computer Society, 1998
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  5. Detailansicht für Treffer 25 öffnen
    Theoretical foundations of VLSI design
    ed. by K. McEvoy ..
    Cambridge [u.a.]: Cambridge Univ. Pr, 1990
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  6. Detailansicht für Treffer 26 öffnen
    Proceedings / 1998 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: November 2 - 4, 1998, Austin, Texas
    sponsored by IEEE Computer Society ..
    Los Alamitos, Calif. [u.a.]: IEEE Computer Soc, 1998
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  7. Detailansicht für Treffer 27 öffnen
    Proceedings / 16th IEEE VLSI Test Symposium: April 26 - 30, 1998, Monterey, California
    sponsored by IEEE Computer Society Technical Committee on Test Technology ..
    Los Alamitos, Calif. [u.a.]: IEEE Computer Soc. Press, 1998
    Monographie, Konferenzschrift, Gedruckte Ressource
  8. Detailansicht für Treffer 28 öffnen
    Proceedings / International Workshop on Memory Technology, Design and Testing: August 24 - 25, 1998, San Jose, California, USA
    sponsored by IEEE Computer Society Technical Committee on Test Technology ... Ed. by D. Lepejian ..
    Los Alamitos, Calif. [u.a.]: IEEE Computer Society, 1998
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource

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